О компанииСобытия и новостиE-shopГазета "ОПТЭК Сегодня"ДилерыКонтакты






Оптика Zeiss в миссии на Марс

Орбитальный межпланетный зонд ESA`s с 25 сентября 2003 года вращается вокруг Марса. На борту находится

также система получения изображения фирмы Zeiss, которая должна провести 3D-цветную картографическую съемку поверхности Марса.
больше фактов >>>







Газета "ОПТЭК Сегодня"



1. "Инновационные методы микроскопии в научном и образовательном процессе" - сборник научных статей специалистов институтов РАН и ВУЗов России и Украины (2207)

2. Газета "Наука Урала", №28 (984), декабрь 2008г. (Газета Уральского отделения РАН). Статья "Катализатор сотрудничества", Е. Понизовкина

3. Научно-популярный журнал "Наука и жизнь" №5, 2009 г. Статья "История одного бизнеса"

4. Газета "ДВ Ученый" №9 (1374) 2009 г, Статья "Микроскопы от Карл Цейсс", автор: Е. Корнилова

5. Серия "МИР ФИЗИКИ И ТЕХНИКИ"
Книга "Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный анализ"
Издательство "Техносфера"
г. Москва, 2009

Авторы:
Криштал Михаил Михайлович - д.ф.-м.н.. проректор по науке, профессор кафедры "Материаловедение и механика материалов" (Тольяттинский госуниверситет), член редколлегии журналов "Металловедение и термическая обработка металлов" (МиТОМ) и "Деформация и разрушение материалов".

Ясников Игорь Станиславович - д.ф.-м.н., профессор кафедры "Общая и теоретическая физика" (Тольяттинский госуниверситет); инженер-исследователь Отдела исследования состава и свойств материалов (Исследовательский центр ОАО "АВТОВАЗ".

Полунин Виктор Иванович - к.т.н., начальник Отдела исследования состава и свойств материалов (Исследовательский центр ОАО "АВТОВАЗ").

Филатов Анатолий Михайлович - ведущий инженер-исследователь Отдела исследования состава и свойств материалов {Исследовательский центр ОАО "АВТОВАЗ").

Ульяненков Александр Георгиевич - руководитель департамента нанотехнологических систем и электронной микроскопии Московского представительства компании Carl Zeiss.

В книге кратко изложены основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), систематизированы и подробно разобраны примеры практического применения СЭМ с рентгеноспектральным микроанализом. Большинство примеров относится к деятельности заводской лаборатории.

6. Журнал "Популярная механика", май 2009. Статья "шар, рисующий вселенную" (Планетарии).

7. Книга "Цитологическая диагностика опухолей нервной системы", 2008г.
Авторы: Шапиро Н.А.

8. Книга "Клиническая патология гортани", 2008г.
Авторы: В Дайхес Н.А., Быкова В.П., Пономарев А.Б., Давудов Х.Ш.

9. Атлас "Цитологическая диагностика опухолей мягких тканей", 2009г.
Автор: Шапиро Н.А.

  

О компанииСобытия и новостиE-shopГазета "ОПТЭК Сегодня"ДилерыКонтакты