О компанииСобытия и новостиE-shopГазета "ОПТЭК Сегодня"ДилерыКонтакты






Спектрометр MMS1 - победитель в самой зрелищной регате яхт

В океанской регате Volvo Ocean Race, самой тяжелой в мире оффшорной регате яхт, каждая лодка была оборудована одним из наших спектрометров с целью анализа и регистрации качества воды мирового океана для экологического проекта. больше фактов >>>













MultiMode

MultiMode

Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode с момента своего создания компанией Digital Instruments завоевал заслуженную популярность среди пользователей по всему миру и стал настоящей классикой среди зондовых микроскопов: по статистике научной периодики наибольшее количество СЗМ-изображений было получено именно на микроскопах MultiMode. Широчайший спектр методик для исследования физических свойств поверхности, легендарная надежность и потрясающая простота в использовании обеспечили такую популярность линейке микроскопов MultiMode.
Открытая архитектура микроскопа позволяет быстро менять сканирующие головки, сканеры и держатели кантилеверов, подавать на образец сигналы от внешних источников, устанавливать дополнительные модули.
Области применения микроскопа: материаловедение, микробиология, нанотехнологии.

Краткие технические характеристики:

Размер образца – 15х15х5 мм;
Крепление образца – на магнитный столик;
Тип сканирования – образцом;
Поле сканирования – до 150х150х5 мкм (зависит от сканера);
Уровень шума по Z – менее 0.3 Ǻ на воздухе, менее 0.5 Ǻ в жидкости;
Позиционирование зонда – микрометрическими винтами.



Подробнее о MultiMode >>

Dimension V

Сканирующий зондовый микроскоп Dimension V

Сканирующий зондовый микроскоп Dimension V разработан специально для исследования крупногабаритных образцов, например, кремниевых пластин.
Специальная платформа с вакуумным присосом обеспечивает надежное крепление образцов до 200 мм в диаметре и  перемещается образца в плоскости XY с помощью шаговых двигателей.
Совокупность гранитной плиты и виброизоляционного стола с акустическим кожухом обеспечивают максимальный уровень защиты от внешних вибраций.
Управление микроскопом, – проведение измерений, выбор области сканирования, перемещение образца, зуммирование видеокамеры, – осуществляется полностью с компьютера при закрытом акустическом кожухе.
Открытая архитектура микроскопа позволяет устанавливать дополнительные модули, подавать на образец сигналы от внешних источников.

Области применения микроскопа: материаловедение, микроэлектроника, нанотехнологии.

Краткие технические характеристики

Размер образца – до 200 мм диаметр, до 12 мм толщина;
Крепление образца – на вакуумный столик;
Тип сканирования – зондом;
Поле сканирования – до 90х90х8 мкм;
Уровень шума по Z – менее 0.5 Ǻ;
Позиционирование образца – автоматическое, в диапазоне 125х100 мм.

Подробнее о Dimension V >>

Dimension Icon

сканирующий зондовый микроскоп Dimension Icon

Уникально низкий тепловой дрейф и крайне малый шум по Z позволили впервые получить на широкоформатной системе характеристики, доступные до этого на СЗМах, предназначенных для исследования небольших образцов. Специально разработанный для Dimension Icon сканер, при диапазоне сканирования в 90х90х10 мкм3 и постоянно включенной системе линеаризации, способен получить устойчивое атомарное изображение.
Платформа для образцов с вакуумным присосом обеспечивает надежное крепление как одного, так и нескольких образцов. Перемещение образца в плоскости XY осуществляется с помощью шаговых двигателей и может быть запрограммировано.
Система полностью интегрирована в специально разработанный акустический кожух со смотровым окном, который в совокупности с массивным (450 кг)  виброизоляционным столом обеспечивают максимальный уровень защиты от внешних вибраций, акустических шумов и внешнего электромагнитного излучения.
Открытая архитектура микроскопа позволяет устанавливать дополнительные модули, подавать на образец сигналы от внешних источников.

Dimension Icon применяется для исследования поверхности полупроводниковых пластин, литографических масок, магнитных носителей, CDs/DVDs, биоматериалов, оптики и других образцов.

Краткие технические характеристики:

Размер образца – до 210 мм диаметр, до 15 мм толщина;
Крепление образца – на вакуумный столик;
Тип сканирования – зондом;
Поле сканирования – до 90х90х10 мкм3;
Уровень шума по Z – менее 30 пм;
Скорость теплового дрейфа 200 пм/мин;
Позиционирование образца – автоматическое, в диапазоне 180х150 мм.

Подробнее о Dimension Icon >>

Dimension 3100

атомно-силовой микроскоп Dimension 3100

Сканирующий зондовый микроскоп Dimension 3100 разработан специально для исследования крупногабаритных образцов, например, кремниевых пластин.

Специальная платформа с вакуумным присосом обеспечивает надежное крепление образцов до 200 мм в диаметре и  перемещается образца в плоскости XY с помощью шаговых двигателей.
Совокупность гранитной плиты и виброизоляционного стола с акустическим кожухом обеспечивают максимальный уровень защиты от внешних вибраций.
Управление микроскопом, – проведение измерений, выбор области сканирования, перемещение образца, зуммирование видеокамеры, – осуществляется полностью с компьютера при закрытом акустическом кожухе.
Открытая архитектура микроскопа позволяет устанавливать дополнительные модули, подавать на образец сигналы от внешних источников.

Области применения микроскопа: материаловедение, микорэлектроника, нанотехнологии.

Краткие технические характеристики

Размер образца – до 200 мм диаметр, до 12 мм толщина;
Крепление образца – на вакуумный столик;
Тип сканирования – зондом;
Поле сканирования – до 90х90х6мкм;
Уровень шума по Z – менее 0.5 Ǻ;
Позиционирование образца – автоматическое, в диапазоне 125х100 мм.

Подробнее о Dimension 3100 >>

Innova

атомно-силовой микроскоп Innova

Новый сканирующий зондовый микроскоп Innova сочетает в себе высочайшее разрешение, большую функциональность и простоту в использовании. Встроенная цифровая камера высокого разрешения и моторизированное основание для образцов позволяют быстро и просто позиционировать образец в поисках нужных участков.
Жесткая конструкция механики головки микроскопа, очень низкий тепловой дрейф и сверхнизкошумящая электроника позволили получать атомарное разрешение на 90-микронном сканере, снабженном системой линеаризации.
Включать/отключать систему линеаризации можно "на ходу" во время сканирования. Кантилеверы заранее предустановленны на специальные площадки, поэтому настройка оптической системы не представляет труда.
Широкий спектр реализуемых методик делает СЗМ Innova мощным и универсальным инструментом для решения задач в области материаловедения, биологии, исследования полимеров и полупроводниковых материалов.

Краткие технические характеристики

Размер образца – до 50х50х18 мм;
Крепление образца – на магнитный столик;
Тип сканирования – образцом;
Поле сканирования – до 90х90х7.5 мкм;
Уровень шума по Z – менее 0.5 Ǻ, open-loop.

Подробнее об Innova >>

BioScope Catalyst

атомно-силовой микроскоп BioScope Catalyst

В 1994 году компанией Veeco был предложен первый коммерческий АСМ, совмещенный с инвертированным оптическим микроскопом. BioScope Catalyst, – последнее поколение этой удачной модели, –  сконструирован специально для нужд медиков и биологов. Он может быть интегрирован в большинство современных конфокальных и инвертированных микроскопов. Совмещение двух, принципиально разных, методов исследования дает совершенно новый уровень информации об объекте: оператор одновременно получает изображение клеточной структуры (оптический микроскоп) и изображение поверхности клетки (атомно-силовой микроскоп).

Области применения микроскопа: микробиология, медицина, материаловедение, нанотехнологии.

Краткие технические характеристики:

Размер образца – чашечки Петри до 60 мм в диаметре;
Тип сканирования – раздельный по XY и Z;
Поле сканирования – до 150х150х20мкм3;
Уровень шума по Z – 0.1 нм (RMS) на воздухе и 0.2 (RMS) нм в жидкости;
Позиционирование образца – моторизированное, в диапазоне 10х10 мм.

Подробнее о Bioscope Catalyst >> 

Dimension Edge

атомно-силовой микроскоп Dimension Edge

Dimension Edge - новый атомно-силовой микроскоп, разработанный на платформе Dimension Icon, лучшего на сегодняшний день АСМа для крупноформатных образцов. Сохраняя характеристики старшей модели, Dimension Edge существенно дешевле и проще в эксплуатации.

Сердцем системы является линеаризованный, широкопольный сканер, установленный на жесткой, термокомпенсированной раме. Вся электроника за исключением камеры и сканера располагается вне микроскопа, что позволило снизить тепловой дрейф системы.
Платформа с вакуумным присосом позволяет автоматически перемещать образцы в плоскости XY.
При одновременном исследовании нескольких образцов перемещение от одного к другому можно запрограммировать. Открытый доступ к образцам во время сканирования позволяет реализовывать широкий спектр пользовательских экспериментов.

Краткие технические характеристики

Размер образца – до 150 мм диаметр, до 15 мм толщина (опционально до 40 мм);
Крепление образца – на вакуумный столик;
Тип сканирования – зондом;
Поле сканирования – до 90х90х10 мкм3;
Уровень шума по Z – менее 50 пм;
Позиционирование образца – автоматическое, в диапазоне 150х150 мм2.

Подробнее о Dimension Edge >>

MultiMode 8

Атомно-силовой микроскоп MultiMode 8

Атомно-силовой микроскоп MultiMode 8 - это система последнего поколения в линейке MultiMode.

Основное отличие от других моделей – новое программное обеспечение и поддержка режимов PeakForce QNM  и ScanAsyst.



Краткие технические характеристики

Размер образца – 15х15х5 мм;
Крепление образца – на магнитный столик;
Тип сканирования – образцом;
Поле сканирования – до 150х150х5 мкм3 (зависит от сканера);
Уровень шума по Z – менее 0.3 Ǻ на воздухе, менее 0.5 Ǻ в жидкости;
Позиционирование зонда – микрометрическими винтами.

Подробнее о MultiMode 8 >>

Innova-IRIS

атомно-силовой микроскоп Innova-IRIS

Комбайн Innova-IRIS объединяет в себе возможности двух мощных методик по исследованию поверхности: атомно-силовой микроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния света (Раман-спектроскопия). В основе Раман-спектроскопии лежит явление неупругого рассеяния света. В результате анализа Раман-спектра можно определять природу вещества. Такое совмещение дает возможность одновременно воспроизводить топографию образца и идентифицировать химические компоненты, составляющие его поверхность.

Отличие атомно-силовых микроскопов Innova-IRIS и Innova лишь в конструкции сканирующей головки.

Подробнее об Innova-IRIS >>

BioScope Catalyst-IRIS

атомно-силовой микроскоп BioScope Catalyst-IRIS

Комбайн BioScope Catalyst-IRIS объединяет в себе возможности двух мощных методик по исследованию поверхности: атомно-силовой микроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния света (Раман-спектроскопия).

В основе Раман-спектроскопии лежит явление неупругого рассеяния света. В результате анализа Раман-спектра можно определять природу вещества. Такое совмещение дает возможность одновременно воспроизводить топографию образца и идентифицировать химические компоненты, составляющие его поверхность.

Подробнее о BioScope Catalyst-IRIS >>

  

О компанииСобытия и новостиE-shopГазета "ОПТЭК Сегодня"ДилерыКонтакты